判断正误:A.除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤.B.为测定熔融氢氧化钠的导电性,可在瓷坩埚中熔化氢氧化钠固体后进行测定.(请给出解释,)

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/05/05 15:14:36
判断正误:A.除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤.B.为测定熔融氢氧化钠的导电性,可在瓷坩埚中熔化氢氧化钠固体后进行测定.(请给出解释,)

判断正误:A.除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤.B.为测定熔融氢氧化钠的导电性,可在瓷坩埚中熔化氢氧化钠固体后进行测定.(请给出解释,)
判断正误:A.除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤.
B.为测定熔融氢氧化钠的导电性,可在瓷坩埚中熔化氢氧化钠固体后进行测定.(请给出解释,)

判断正误:A.除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤.B.为测定熔融氢氧化钠的导电性,可在瓷坩埚中熔化氢氧化钠固体后进行测定.(请给出解释,)
A正确
铝可以和氢氧化钠溶液发生反应生成偏氯酸钠,过滤后得到纯净的铁
B错误
瓷坩埚中含二氧化硅,会与氢氧化钠反应.2NaOH+SiO2=Na2SiO3+H2O.生成的硅酸钠呈胶状.钠离子与氢氧根离子均减少,导电能力减弱,影响了实验的准确性,所以不能.

两个都错!

B是错的
过量的Al与NaOH反应为Al+NaOH+H2O=NaAlO2+H2↑
NaAlO2溶与水
B中NaOH即使是熔融状态也能与空气中的CO2反应2NaOH+CO2=Na2CO3+H2O
瓷坩埚中含二氧化硅,会与氢氧化钠反应。2NaOH+SiO2=Na2SiO3+H2O。生成的硅酸钠呈胶状。钠离子与氢氧根离子均减少,导电能力减弱,影响了实验的准确性,所...

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B是错的
过量的Al与NaOH反应为Al+NaOH+H2O=NaAlO2+H2↑
NaAlO2溶与水
B中NaOH即使是熔融状态也能与空气中的CO2反应2NaOH+CO2=Na2CO3+H2O
瓷坩埚中含二氧化硅,会与氢氧化钠反应。2NaOH+SiO2=Na2SiO3+H2O。生成的硅酸钠呈胶状。钠离子与氢氧根离子均减少,导电能力减弱,影响了实验的准确性,所以不能
影响实验精确

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A。除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤。
可以。

判断正误:A.除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤.B.为测定熔融氢氧化钠的导电性,可在瓷坩埚中熔化氢氧化钠固体后进行测定.(请给出解释,) 除去铁粉中混有的少量铝粉,可选用的试剂是 (A) 盐酸 (B) 稀硫酸 (C) 氨水 (D) NaOH溶液 要除去铁粉中混有的少量铜粉,可采取的方法是? 用稀盐酸除去铁粉中混有的少量铜粉是否正确? 除去铁粉中混有的少量锌粉,应用什么试剂A硝酸银B稀盐酸C硫酸铁D硫酸铜 用一种试剂,分别除去下类各物质中的杂质.写出所用试剂的名称及有关反应.1.除去SiO2中有混有的少量CaO2.除去FeCl2溶液中混有的少量Cu2+3.除去铁粉中混有的少量铝粉 (化学)除去铁粉中混有的少量铝粉,可选用什么试剂?如果有化学方程式的话,也请写出来吧!谢谢!^_^ 除去铁粉中混有的少量铝粉,可加入过量的氢氧化钠溶液,完全反应后过滤?铁不和氢氧化钠反应吗? 怎样除去铁粉中的少量铝粉 下列括号中的物质是除去杂质所需的药品,其中错误的是A、除去NaCl中混有的少量Na2SO4(氯化钡溶液)B、除去FeSO4中混有的少量CuSO4(铁粉)C、除去CO2中混有的少量HCl(氢氧化钠溶液)D、除去 .要除去下列物质中所混有的少量杂质,应加入什么试剂 写出有关反应的化学方程式.(1)铁粉中混有少量铝粉.(2(1)铁粉中混有少量铝粉.(2)FeC12溶液中混有少量FeCl3.(3)Na2CO3中含有少量NaHCO3.(4)乙烷 要除去硫酸镁溶液中混有的少量硫酸和硫酸铜,可加入下列物质中的 A.氢氧化钠 B.铁粉 C.氧化镁 D.镁粉 下列实验方法错误的是A用水鉴别硝酸铵固体和氢氧化钙固体B用紫色石蕊溶液鉴别二氧化碳气体和一氧化碳气体C用浓硫酸除去氢气中混有的少量水蒸气D用稀盐酸除去铁粉中混有的少量铜粉 除去硝酸钾中混有的少量氯化钠, 应加入什么除去铁粉中混杂的少量铝粉渣滓? 设计实验除去杂质:①铜粉中含有的少量铁粉;②FeCl2溶液中含有的少量CuCl2... 铁粉中含有少量氧化铁怎样除去 除去镁粉中混有的少量铝粉,可选用什么试剂